Растровый электронный микроскоп
Растровый электронный микроскоп
Новейшая модель в линейке сканирующих электронных микроскоп , в которой реализованы все последние достижения в технологии электронной оптики .
Термополевой катод (Шоттки), объективная линза с низкими аберрациями и высокая стабильность обеспечивают высокое разрешение и тонкий зонд даже при высоких токах пучка (свыше 200нА при 15кВ).Это идеальное решение для исследования и анализа наноструктур.
Многозадачный, высокоэффективный СЭМ с низким энергопотреблением (1,2 кВА) снабжен уникальной комбинацией пушки «In-lens» , позволяющей эффективно собирать все электроны и поддерживать высокий ток пучка, подогревного автоэмиссионного катода и линзы с оптимальным углом апертуры для формирования тонкого зонда, даже при высоких токах.Встроенный r-фильтр позволяет смешивать сигналы детекторов вторичных и отраженных электронов, делая анализ изображений еще более эффективным.
Маленький размер зонда гарантируется даже при низких ускоряющих напряжениях и высоких токах.На колонну микроскопа могут быть установлены все типы аналитических приставок, например, EDS, WDS, EBSD, CL.Маленький диаметр зонда и оптимальные условия позволяют элементный анализ образцов с размерами анализируемой области в несколько десятков нанометров.
- Система “Gentle Beam” позволяет уменьшить заряд на непроводящих образцах и изучать их с высоким разрешением при низких ускоряющих напряжениях.
- Нижний детектор отраженных электронов (опция)
- Полностью автоматизированная электронная пушка.
- Неограниченное число специальных настроек микроскопа, которые можно сохранять и использовать.
- Удобное управление столиком с помощью трекбола, кнопок или мыши, на выбор.
- Получение до четырех типов изображений одновременно, в реальном времени.
